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第426章 试探 光刻产线(2/2)

    技术人员小心翼翼地将其取出,放入检测设备中,屏幕上瞬间跳出密密麻麻的参数曲线。

    “线宽均匀度误差±0.0028微米,符合设计标准!”检测工程师高声汇报,声音里带着难以掩饰的激动,“关键电路纹路无锯齿、无桥连,光刻质量远超预期!”

    沈院士俯身细看检测报告,眼中满是震撼:“这种精度,放在国际上也是顶尖水准!要知道,国外同级别45纳米光刻机的线宽误差普遍在±0.004微米左右,你们足足提升了30%。”

    随着时间推移,一片片晶圆陆续完成光刻。

    车间里的紧张氛围逐渐被喜悦取代,技术人员们脸上都洋溢着兴奋的笑容,互相击掌庆祝。

    四个小时后,100片试产晶圆全部完成。

    王世杰刷新数据平板,声音带着抑制不住的颤抖:“楚总、沈院士,试产结果出来了!良率稳定在94.3%,连续100片无任何设备故障,稳定性完全达标!”

    hai
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